2020-07-17 10:54:39
使用PhillipsPANalyticalXpertPro衍射儀(工作波長為1.5405?)(CuKα陽)收集電弧熔化的拋光錠的X射線粉末衍射(XRD)數(shù)據(jù),而顯微照片則通過掃描電子顯微鏡(SEM)獲得),使用ZeissUltra場發(fā)射顯微鏡,并使用牛津儀器X-MaxEDX硅漂移檢測器進行附加元素檢測(EDX),以檢查元素的定性成分。隨后通過軟磁合金在環(huán)境壓力...2020-07-17 10:54:39
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